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轉(zhuǎn)塔式、平移式和重力式測(cè)試分選機(jī)的區(qū)別
2024-04-28 09:30
半導(dǎo)體測(cè)試分選設(shè)備是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中不可或缺的一環(huán),其中轉(zhuǎn)塔式、平移式和重力式是三種常見(jiàn)的類型。這三種類型在結(jié)構(gòu)、工作原理和應(yīng)用場(chǎng)景等方面存在明顯的區(qū)別。
轉(zhuǎn)塔式測(cè)試分選機(jī):轉(zhuǎn)塔式測(cè)試分選機(jī)以直驅(qū)電機(jī)為中心,各工位模塊在旁協(xié)調(diào)運(yùn)行。芯片通過(guò)轉(zhuǎn)塔式分選機(jī)主轉(zhuǎn)盤的轉(zhuǎn)動(dòng),逐步被各個(gè)工位測(cè)試,直到完成所有測(cè)試。其優(yōu)點(diǎn)在于每小時(shí)產(chǎn)量高,最快可以完成5萬(wàn)枚芯片的測(cè)試。然而,由于其旋轉(zhuǎn)式傳動(dòng)所造成的離心作用力,轉(zhuǎn)塔式分選機(jī)不能應(yīng)用于重量較重、外形尺寸較大的產(chǎn)品。
平移式測(cè)試分選機(jī):平移式測(cè)試分選機(jī)采用機(jī)械臂運(yùn)輸芯片,適合體積偏大、重量大、測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)的芯片。它通過(guò)機(jī)械臂的平移運(yùn)動(dòng),將芯片從一個(gè)工位移動(dòng)到另一個(gè)工位進(jìn)行測(cè)試。平移式分選機(jī)的優(yōu)點(diǎn)在于可以處理較大、較重的芯片,但其測(cè)試速度可能相對(duì)較低。
重力式測(cè)試分選機(jī):重力式測(cè)試分選機(jī)以半導(dǎo)體器件自身的重力和外部的壓縮空氣作為器件運(yùn)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)力。器件自上而下沿著分選機(jī)的軌道運(yùn)動(dòng),在運(yùn)動(dòng)的同時(shí)完成整個(gè)測(cè)試過(guò)程。其優(yōu)點(diǎn)在于設(shè)備結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,易于維護(hù)和操作,且生產(chǎn)性能穩(wěn)定,故障率低。然而,由于依賴于重力和壓縮空氣,重力式分選機(jī)可能不適用于某些特殊形狀或材質(zhì)的芯片。
轉(zhuǎn)塔式、平移式和重力式半導(dǎo)體測(cè)試分選機(jī)各有其優(yōu)缺點(diǎn),應(yīng)根據(jù)具體的應(yīng)用場(chǎng)景和需求選擇合適的類型。?
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